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单事件对FPGA的影响


基于SRAM技术,用于地面及高海拔的高稳定性应用可编程逻辑器件,在alpha及中子辐射使配置数据丢失的情况下,易于受到错误的影响。潜在的FPGA配置的损失称之为“固件错误”,并且这一错误一直会延续到被它检测及纠正后。相反,“软错误”是数据的一个单个字节中的瞬间错误。固件错误会造成系统级故障,并且难于防范和纠正。

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